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对于纳米粉成分的分析方法的讲解

表征与测试技术是科学鉴别纳米材料、认识其多样化结构、评价其特殊性能的根本途径。纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性如形貌、尺寸、粒径、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸光特性等。

纳米铜粉粉体的成分表征通常有以下几种方法：

原子吸收光谱AAS；电感耦合等离子体原子发射光谱ICP；电感耦合等离子体质谱；X-射线荧光光谱XFS；电子探针分析EPMA；X射线光电子能谱技术XPS。

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纳米铜粉材料的常用检测方法的介绍

透射电子显微镜TEM(Tran***ission Electron Microscope)：

组成：电子光学系统、电源和控制系统和真空系统组成。

电镜对真空要求较高，需机械泵和油扩散泵两级串联才能得到保证。TEM可以获得高倍放大倍数的电子图像，也可以得到电子衍射花样，常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子形貌、分散情况及测量评估其粒径。TEM常用于纳米复合材料微观结构表征。

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纳米氧化铜粉的用途说明

当普通氧化铜粉体的粒径达到纳米级时，将使它功能更加独特，应用更加广泛。纳米氧化铜已被应用于催化剂、传感材料等领域，并显示出很好的应用前景。

纳米氧化铜的表面效应使其具有比表面积大、吸附能力强、反应活性高和选择性强等特点。另外，纳米粒子的表面原子与颗粒的内部原子状态不同，表面原子配位不全等因素使其表面活性位置增加。这些条件都使得纳米氧化铜能够成为良好的催化剂。